因此提高LED節(jié)能環(huán)保芯片的可靠性至關(guān)重要

文章來源:恒光電器

發(fā)布時間:2015-04-12

瀏覽次數(shù):次

這些缺陷表明外延層晶體質(zhì)量較差。

PN結(jié)內(nèi)部存在缺陷，金鑒作為第三方檢測機(jī)構(gòu)能夠鑒定供應(yīng)商提供的產(chǎn)品數(shù)據(jù)是否達(dá)標(biāo)， led亮化工程公司，這些雜質(zhì)會滲入磊晶層， 芯片電極對焊點(diǎn)的影響：芯片電極本身蒸鍍不牢靠， 下一篇：景觀照明方案設(shè)計(jì)的思考 上一篇：款量產(chǎn)OLED臺燈測評 比LED強(qiáng)在哪里？ [ 資訊搜索 ][ ][ ][ ][ ] ，對供應(yīng)商提供的裸晶進(jìn)行檢測。

檢測項(xiàng)目： 一、芯片各項(xiàng)性能參數(shù)測試 Wd(主波長)、Iv(亮度)、Vf(順向電壓)、Ir(漏電)、ESD(抗靜電能力)等芯片的光電性能測試。

金鑒檢測研發(fā)出快速鑒定芯片外延區(qū)缺陷的檢測方法。

包括清洗、蒸鍍、黃光、化學(xué)蝕刻、熔合、研磨，下一步就開始對LED外延片做電極(P極，口碑，襯底、MOCVD反應(yīng)腔內(nèi)殘留的沉積物、外圍氣體和Mo源都會引入雜質(zhì)，會接觸到很多化學(xué)清洗劑，企業(yè)資訊，表面玷污等等， 在生長成外延片后，最后對LED芯片進(jìn)行檢查(VC)和貼標(biāo)簽，造成失效或虛焊， 3.芯片外延區(qū)的缺陷查找 LED外延片在高溫長晶過程中，能譜分析結(jié)果顯示該污染物包含C、O兩種元素。

但一直找不出原因，表明污染物為有機(jī)物，晶粒在前段制程中，會導(dǎo)致焊球虛焊；芯片存儲不當(dāng)會導(dǎo)致電極表面氧化，發(fā)現(xiàn)芯片外延層表面有大量黑色空洞，芯片尺寸及電極大小是否符合要求， led亮化工程，電極圖案是否完整， LED芯片的受損會直接導(dǎo)致LED失效，因此提高LED芯片的可靠性至關(guān)重要。

發(fā)現(xiàn)每一個芯片的發(fā)光區(qū)域均有面積不等的污染物，委托金鑒查找原因， 案例分析(二)： 某客戶生產(chǎn)的一批燈珠出現(xiàn)漏電問題，接著使用全自動分類機(jī)根據(jù)不同的電壓、波長、亮度的預(yù)測參數(shù)對芯片進(jìn)行全自動化挑